「第 40回ネプコンジャパン2026 (第3回パワーデバイス&モジュールEXPO)」 ご来場ありがとうございました!

2026.01.27
精密測定機器展示会
2026年1月21日(水) ~ 23日(金)の3日間、東京ビックサイトにて開催されました
「第40回ネプコンジャパン2026(第3回パワーデバイス&モジュールEXPO)」では多くの方に弊社ブースへお越し頂きました。
ご来場まことにありがとうございました。

今回展示致しました製品についてご紹介いたします。

■膜厚・段差測定機 Nano Texturer NT1520(実機出展)
 ユーザー様のご要望にお応えし、半導体業界向けに改良を加えた、
 
接触式段差計 NTシリーズの実機を展示致しました。
【特徴】
・X、Y方向両軸測定 ワークの置き直しが不要
 →指定領域一括測定、測定時間の短縮
  作業者が他の業務を行える、タクトタイムの短縮

・ワイドレンジ検出器 世界最高1,300μm
 →テーブルのレベリングが不要、大きな反り測定も可能
  ※オプションのZ追従で20mm以下の反り測定も可能

・先端頂角15°、半径1μm触針
 →限りなく先端まで15°を保持した触針
  微細穴・狭ピッチ溝などの形状評価(深さ、壁面形状、等)が可能






■微細穴三次元形状測定機 FP-Labo(パネル出展)
 世界で初めて半導体Si貫通電極(TSV)などの微細穴に対し非破壊計測を実現
 難度の高い測定も可能とする装置です。
  ・Φ10μm~の穴を深さ300μmまで測定可能
  ・低測定圧0.1μN以下を実現
  ・レシピ作成により自動測定可能




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