「研究・開発・分析産業展2025」ご来場ありがとうございました！

2025年7月24日、25日の2日間、西日本総合展示場にて開催されました正晃株式会社様主催の
「研究・開発・分析産業展2025」では多くの方に弊社ブースにお越しいただきました。
ご来場まことにありがとうございました。
今回展示致しました製品についてご紹介いたします。

  

■小型微細形状測定機　ET200Aシリーズ
　弊社独自の検出方式、直動式を採用した高精度・高再現性の段差測定機です。
　レバー式（てこ式）の検出器では支点のガタツキによる再現性悪化がありますが、支点を持たない
　直動式検出器は高再現性を実現しております。

　また、触圧制御により薄膜・軟質材にも極力ダメージを与えず測定することが可能です。

　実機も御座いますのでデモ測定などお気軽にご相談下さい。


製品についてご質問・ご相談がある方はお気軽にお問い合わせください。
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